SMSC
Das SMSC (Scanning Microscope for Semiconductor Characterization) erlaubt es, ortsaufgelöste Photostrombilder von halbleitenden Materialsystemen mit einer Auflösung im µm-Bereich aufzunehmen. So wurden unter anderem Schichtgitter-Elektroden (MoS2, WSe2 und MoxW1-xS2) in nassen elektrochemischen Zellen untersucht. An diesen Proben zeigte sich in der Regel eine inhomogene Verteilung der Photoströme. Mittels dieser Messungen können nun die Oberflächenprozesse studiert und optimiert werden, welche die Stromausbeute limitieren. Über die Methode der Elektroreflexion lassen sich zusätzlich elektronische Eigenschaften, wie z.B. die energetische Lage der Bandkanten, bestimmen.
Analyse einer Photozelle
