• Das Zentrum im Überblick
• Forschung
  • Solarenergieforschung
    • Technologie
      • Charakterisierung
        • Sonnensimulator
        • Messung der Quanteneffizienz
        • Kapazitäts-Spektroskopie
        • LBIC-Messplatz
        • Thermographie
        • Photolumineszenzspektroskopie
        • Raman-Spektroskopie
        • Röntgenbeugung an dünnen Schichten
        • In-situ Laserlichtstreuung
        • Röntgenfluoreszenzanalyse an dünnen Schichten (RFA)
        • Rasterelektronenmikroskopie (REM)
        • Transmissionselektronen-mikroskopie (TEM)
• Nutzerkoordination
• Angebote
• Aktuell

Charakterisierungsverfahren

Die analytischen Verfahren der Abteilung seien im Folgenden kurz zusammengefasst.

Wir unterscheiden zwischen optisch-elektrischen und strukturell-materialwissenschaftlichen Charakterisierungsverfahren.

optisch-elektrische Verfahren:

• Sonnensimulator
• Spektrale Empfindlichkeit
• Admittanzspektroskopie C(U,f,T); Kapazitätsmessung in Abhängigkeit von der Spannung, Frequenz und der Temperatur
• Photolumineszenz
• EBIC und LBIC (electron/light beam induced current)
• Infrarot-Thermografie

strukturell-materialwissenschaftliche Verfahren:

• Röntgenbeugung (XRD, GIXRD, EDXRD)
• Ramanspektroskopie
• Laserlichtstreuung
• Röntgen-Fluoreszenz-Analyse
• Rasterelektronenmikroskopie (WDX/EDX, EBSD, EBIC)
• Transmissionselektronenmikroskopie (EDX, EELS, EFTEM)