Technologietransfer-Projekt: Halbleitercharakterisierung

Titel: Ortsaufgelöste Charakterisierung von photoaktiven Materialien

Industrie-Bereiche:
Elektronik und Optoelektronik, Sensoren und Meßtechnik

Kurzbeschreibung:
Die Darstellung von Halbleiter-Grenzflächen in Form von Bildern von Photoströmen, Photospannungen oder Elektroreflexionssignalen gibt sehr relevante Aussagen über Energieumwandlungsmechanismen bei Solarzellen- oder Katalysatormaterialien. Diese Technik soll als Zusatzeinrichtung für vorhandene Mikrowellengeräte entwickelt werden.

Letzte Änderung: 16.09.2014