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TEM

Strukturuntersuchung von Solarzellen mittels TEM

Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) ermöglicht eine breite Palette von hochauflösenden Untersuchungsmethoden, einschließlich Raster-Transmissionselektronenmikroskop (STEM), Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS), energiegefilterter Transmissionselektronenmikroskopie (EFTEM), sowie energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDX) und Tomographie.

Mikroskopische Ultrastrukturuntersuchung von Solarzellen mittels hochauflösender TEM-Methoden zur Bestimmung von Defekten, die im direkten Zusammenhang mit der photovoltaischen Effizienz von Solarszellen stehen.

Hochauflösendes TEM-Bild eines Si/SiO2/Rh stapels - vergrößerte Ansicht

HRTEM eines of Si/SiO2/Rh-Stapels

BF-TEM-Bild einer organsichen Solarzelle - vergrößerte Ansicht

BFTEM einer organischen Solarzelle

Scanning TEM mit EDX Mapping - vergrößerte Ansicht

STEM mit EDX Elementverteilung