Optimierung von Materialoberflächen mit XPS

Die Oberfläche eines Materials ist die Schnittstelle zu anderen Materialien (bspw. in Multilagensystem) oder zu seiner Umgebung. Die Leistung viele moderner Materialien kann durch ein besseres Verständnis der physikalischen und chemischen Interaktionen an der Oberfläche optimiert werden. Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) gehört zu den Standardtechniken wenn es um die Analyse von Materialoberflächen geht. Sie findet Anwendung bei einer Vielzahl von Materialien. In Kombination mit hohen Intensitäten und selektierbaren Photonenenergien der Synchrotronstrahlung bei BESSY II ist es möglich, mittels XPS chemische Analysen tiefenabhängig zu gestalten.