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PVcomB

Oberflächenanalytik

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Abb. 1: AFM-Topografieaufnahme einer strukturierten Zinkoxid-Schicht (S. Neubert).

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Abb. 2: AFM-3D-Darstellung der Topografie einer periodisch strukturierten Silizium-Schicht (S. Neubert).

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Abb. 3:  3D-Darstellung der Topografie eines Kontaktfingers auf einem texturierten Si Wafer (Laser scanning Mikroskop)  (H. Rhein).