LEEM-PEEM

LEEM-PEEM

This photoemission electron microscope is equipped with a new state-of-the-art aberration corrector minimizing electron-optical imperfections and thus, allowing for higher instrument transmission. Simultaneously, better spatial resolution down to 2 nm is achieved as demonstrated in the low-energy (LEEM) mode. In combination with soft x-rays (XPEEM), spatially resolved spectroscopic investigations (NEXAFS, XPS) can be carried out as well as magnetic spectroscopies (XMCD, XMLD). An extension allows performing stroboscopic XPEEM experiments for magnetization dynamics.

Elektronenoptisches Layout des SPECS P90 AC LEEMPEEM

Elektronenoptisches Layout des SPECS P90 AC LEEMPEEM


Methods

XMCD, NEXAFS, X-ray Microscopy, Photoelectron EM

Remote access

not possible

Beamline data
Energy range 55 - 1500 eV
Energy resolution > 10000
Flux 2·1013
Polarisation • horizontal
• vertical
• circular
Focus size (hor. x vert.) 40 x 40 µm
Phone +49 30 8062 14714
Weitere Details UE56-1_SGM
Station data
Temperature range 300 - 1600 K
Pressure range 4·10-10 - 1·10-7 mbar
Detector two-stage MCP (Hamamatsu)
Manipulators 5-Axis Piezo-contolled
Sample holder compatibility special SPECS
samples 9mm
Additional equipment
Ortsauflösung LEEM-Modus 2 nm
Ortsauflösung PEEM-Modus 20 nm
Enddruck 4E-10 mbar
Präparationskammer * Sputtering up to 1.5kV * Sample temp. range 300 - 1200 K * pyrometric temp. measurement * LEED * Auger * gas inlets: Ar, O2, user specific * base pressure 1E-10 mbar

Kombiniertes Niederenergie-/Photoemissions- Elektronenmikroskop mit Aberrationskorrektur.

Dieses Mikroskop ist mit einem neuartigen Aberrationskorrektor ausgestattet, der elektronenoptische Abbildungsfehler minimiert und dadurch gleichzeitig Transmission und Ortsauflösung erhöht. Im LEEM-Betrieb wurden im Labor bereits 2 nm nachgewiesen. In Kombination mit weicher Röntgenstrahlung (XPEEM) können orstaufgelöste spektroskopische Untersuchungen (NEXAFS, XPS) sowie magnetische Messungen (XMCD,XMLD) durchgeführt werden. Eine kürzlich installierte Erweiterung erlaubt stroboskopische XPEEM-Experimente zur Magnetisierungsdynamik.