2 PANalytical MRD for texture analysis (LMC)

PANalytical MRD für Texturanalyse und µXRD

PANalytical X'Pert Pro MRD (materials research diffractometer) 4-Achsen-Röntgendiffraktometer für die Texturbestimmung sowie für ortsaufgelöste Röntgenbeugung an Dünnschichten.

» Röntgenlinse mit Punktfokus und Parallelstrahl

  • Texturbestimmung (Polfiguren, Orientierungsverteilungsfunktionen (ODFs))
  • In-plane Röntgenbeugung
  • temperaturabhängige Texturanaylse von RT bis 1100°C (Anton Paar DHS1100)

» Optionales Set-Up I: Monokapillare für µXRD

  • ortsaufgelöste Röntgendiffraktometrie z.B. für laterales Mapping (Fokusbreite ≈ 120 µm)

» Optionales Set-Up II: Röntgenspiegel mit automatischem Strahlabschwächer

  • XRD mit streifendem Einfall
  • Omega-Scans
  • Reflektometrie

» Ausstattung

  • Eulerwiege (Omega, Phi, Psi)
  • Röntgenlinse mit einstellbarer Kreuzblende
  • 230 mm x 0,1 mm Monokapillare
  • Röntgenspiegel mit automatischem Strahlabschwächer
  • Xe Punktdetektor

PANalytical MRD für Texturmessungen

PANalytical MRD für Texturmessungen

Links: Setup mit Röntgenlinse für Texturanalyse. Rechts: Polfiguren von einer CISe Absorber-Dünnschicht.

Links: Setup mit Röntgenlinse für Texturanalyse. Rechts: Polfiguren von einer CISe Absorber-Dünnschicht.

Links: Setup mit 230 mm x 0,1 mm Monokapillare für µXRD. Rechts: Laterales µXRD-Mapping an einer CZTSe Absorber-Dünnschicht.

Links: Setup mit 230 mm x 0,1 mm Monokapillare für µXRD. Rechts: Laterales µXRD-Mapping an einer CZTSe Absorber-Dünnschicht.

Links: Setup mit Röntgenspiegel und automatischem Strahlabschwächer für GIXRD/XRR. Rechts: 2Theta-Omega-Scan von BaTiO3 on Si substrate.

Links: Setup mit Röntgenspiegel und automatischem Strahlabschwächer für GIXRD/XRR. Rechts: 2Theta-Omega-Scan von BaTiO3 on Si substrate.