Abou-Ras, D.; Caballero, R.; Fischer, C.-H.; Kaufmann, C.A.; Lauermann, I.; Mainz, R.; Mönig, H.; Schöpke, A.; Stephan, C.; Streeck, C.; Schorr, S.; Eicke, A.; Döbeli, M.; Gade, B.; Hinrichs, J.; Nunney, T.; Dijkstra, H.; Hoffmann, V.; Klemm, D.; Efimova, V.; Bergmaier, A.; Dollinger, G.; Wirth, T.; Unger, W.; Rockett, A.A.; Perez-Rodriguez, A.; Alvarez-Garcia, J.; Izquierdo-Roca, V.; Schmid, T.; Choi, P.-P.; Müller, M.; Bertram, F.; Christen, J.; Khatri, H.; Collins, R. W.; Marsillac, S.; Kötschau, I.: Comprehensive Comparison of Various Techniques for the Analysis of Elemental Distributions in Thin Films. Microscopy and Microanalysis 17 (2011), p. 728-751
10.1017/S1431927611000523