Visitenkarte Dr. Andreas Furchner
Forschungsfokus und Expertisen:
• Untersuchung optischer, struktureller und Transporteigenschaften dünner Filme und mikroskopischer Proben
• Bestimmung optischer Konstanten (dielektrischer Tensor) isotroper und anisotroper Materialien
• Entwicklung polarimetrischer und spektroskopischer Messkonzepte
• Quantitative Dünnfilmanalyse
• Optische Modellierung komplexer Probensysteme
Methoden:
• Bildgebende UV–Vis–NIR-Ellipsometrie (hyperspektrale Amplituden/Phasen-Bildgebung)
• Infrarote Mueller-Matrix-Polarimetrie
• Infrarote Laser-Ellipsometrie
• In-Situ-Infrarotspektroskopie (von s über ms bis µs)