HZB ist Mitglied der IGAFA in Adlershof
Was macht die IGAFA?
Seit September 2020 ist das Helmholtz-Zentrum Berlin wieder Mitglied der IGAFA – der Initiativgemeinschaft außeruniversitärer Forschungseinrichtungen in Adlershof. Prof. Dr. Jan Lüning, wissenschaftlicher Geschäftsführer des HZB, wurde in den Vorstand des Vereins gewählt.
Zu den Aufgaben der IGAFA gehören unter anderem die Förderung der interdisziplinären Zusammenarbeit, die Verbreitung wissenschaftlicher Inhalte durch Publikationen und Veranstaltungen und die Betreuung internationaler Gäste in zwei Begegnungszentren (siehe Grafik).
Zudem versteht sich die IGAFA als Schaltstelle zwischen Forschung und naturwissenschaftlich interessierter Öffentlichkeit. Deshalb beteiligt sich die IGAFA beispielsweise am Adlershofer Dissertationspreis, der Langen Nacht der Wissenschaften oder betreut das Ladies Network Adlershof.
- Kommt zur Langen Nacht der Wissenschaften am 6. Juni von 17 bis 0 UhrWas verrät das Licht über Materialien? Wie entstehen neue Medikamente? Und wie kalt ist eigentlich flüssiger Stickstoff? Bei der Langen Nacht der Wissenschaften öffnen wir unsere Türen und laden Besucher*innen zu einer Entdeckungsreise durch die Welt der Forschung ein.
- Magnetfeld während der Synthese des Katalysators verdreifacht AmmoniakausbeuteEin externes Magnetfeld während der Synthese von CoFe₂O₄-Dünnschichten verdreifacht beim Einsatz in der Elektrokatalyse die Ammoniakausbeute. Das Magnetfeld verändert die Oberflächenzustände der Spinell-Oxid-Dünnschichten, so dass die katalytisch aktiven Zentren stärker exponiert sind. Im Fachjournal 'Advanced Functional Materials' zeigt ein Team um Marcel Risch, HZB, und Sanjay Mathur, Universität Köln, eine skalierbare Strategie, um Elektrokatalysatoren der nächsten Generation für effiziente und nachhaltige chemische Umwandlungen zu entwickeln.
- Imaging-Ellipsometrie für die Prozesskontrolle in DünnschichtbauelementenEin deutsch-israelisches Forschungsteam unter der Leitung von Dr. Andreas Furchner hat gezeigt, wie Imaging-Ellipsometrie die zerstörungsfreie Charakterisierung und Qualitätskontrolle mikrostrukturierter MXene-Dünnschichten während der Bauelementherstellung ermöglicht. Die Autoren nutzten zwei komplementäre ellipsometrische Ansätze für einen präzisen, skalenübergreifenden Zugang zu Materialeigenschaften. Die Arbeit etabliert Imaging-Ellipsometrie als leistungsfähige Methode zur Überwachung von Schichthomogenität, Bauelementintegrität und Funktionalität entlang des Herstellungsprozesses, einschließlich lithografischer Schritte. Die Studie wurde in Applied Physics Letters veröffentlicht und als „Editor’s Pick“ ausgewählt.