CoreLab CCMS (Correlative Microscopy and Spectroscopy)

Herzlich willkommen auf der Webseite des CoreLab CCMS (Correlative Microscopy and Spectroscopy).

Das CoreLab umfasst verschiedene Rasterelektronen- und Ionenmikroskope am HZB-Standorten Wannsee (LMC). Es ist dazu bestimmt die Kollegen am HZB sowie externe Nutzer aus Industrie und Forschung in ihrer Arbeit zu unterstützen und zusammen mit diesen Kollegen offene Fragestellungen mit Hilfe von elektronenmikroskopischen Mitteln zu lösen. Das CCMS CoreLab und das Helmholtz-Zentrum Berlin sind Kooperationspartner im Rahmen der ZEISS labs@location Gemeinschaft, einem Netzwerk von ZEISS Anwendern, die sowohl ihr Wissen als auch spezialisierte Dienstleistungen zur Verfügung stellen.

Das CCMS Steering Committee bestimmt die Ausrichtung des Labors und berät regelmäßig über den weiteren Ausbau.

Um die komplexen Möglichkeiten der Geräte optimal auf die jeweiligen Aufgaben auswählen zu können bitten wir im Vorfeld daum mit uns Kontakt aufzunehmen und anschließend das folgende Formular auszufüllen. Nutzern denen die Möglichkeit eingeräumt wurde die Geräte nach Einweisung selber zu nutzen buchen bitte ihre Termine über das folgende Buchungssystem.

Nachfolgend finden sie eine Aufstellung welche Möglichkeiten das CoreLab bietet:

Probenpräparation

Probenpräparation

Das Probenpräparationslabor ist darauf ausgerichtet, beliebige Materialsysteme aus unterschiedlichen Forschungsgebieten für raster- oder transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen vorzubereiten. Dazu stehen eine Vielzahl von Geräten und speziell angefertigte Hilfsmittel (auch Eigenanfertigungen) zur Verfügung.

Focused Ion Beam

Focused Ion Beam

Crossbeam Systeme  verbinden die Abbildungs- und Analysemöglichkeiten eines Rasterelekronenmikroskops mit den Materialverarbeitungsleistungen eines fokussierten Galliumionen-Strahles. Ihre Möglichkeiten sind vielfältig und umfassen unter anderem 3D Tomographien im µm-nm Bereich, Nanostrukturierung sowie Herstellung von Lamellen für die Transmissionselektronenmikroskopie.

Rasterelektronenmikroskopie

Rasterelektronenmikroskopie

Insgesamt stehen der Elektronenmikroskopiegruppe vier Rasterelektronenmikroskope zur Verfügung, welche mit verschiedenen Analysemöglichkeiten wie Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX), Electron Backscatter Diffraction (EBSD), Electron Beam-Induced Current (EBIC), Kathodolumineszenz (CL) sowie Rasterkraftmikroskop (AFM) ausgestattet sind.

Transmissionselektronenmikroskopie

Transmissionselektronenmikroskopie

Die beiden Transmissionselektronenmikroskope der Elektronenmikroskopiegruppe ermöglichen ein breites Feld an hochaufgelösten Untersuchungsmethoden unter anderem Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM), Elektronenenergieverlustspektroskopie (EELS), Energiegefilterte Transmissionselektronenmikroskopie (EFTEM), Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX) sowie Tomographie.

Orion NanoFab

Orion NanoFab

Die Orion NanoFab ermöglicht die Erstellung von Nanostrukturen unter 10 nm sowohl mit Helium wie auch mit Neon. Durch eine Elektronen Flood Gun ist es möglich mit einer Auflösung von 0,5 nm hochauflösende Aufnahmen auch von schlecht oder nicht leitenden Proben ohne vorheriges beschichten mit Gold oder Kohlenstoff  zu machen.