AFM

Non-contact atomic force microscopy

Methoden

AFM

Das Gerät kann genutzt werden

in Kooperation mit der Organisationseinheit

Labore

AFM Ellipsometer Labor

Probentypen

Amorphous, Crystal, Multilayer/Film

Short description
Nutzung
Gebäude/Raum 19.2 / 129
Location Adlershof
Zusatzinformation max. area: 45 µm x 45 µm
Geräteparameter

For more details and current status of the Instrument please contact the Instrument Scientist.