IR Mueller-Matrix ellipsometry
Infrarot Mueller-Matrix Ellipsometer
Methoden
Ellipsometry, Polarimetry, Thin film analysis, IR Spectroscopy
Das Gerät kann genutzt werden
in Kooperation mit der Organisationseinheit
Labore
Probentypen
Amorphous, Crystal, Multilayer/Film
| Spektralbereich | |
|---|---|
| Short description | 800 - 8000 wavenumbers |
| Nutzung | |
| Gebäude/Raum | 19.2 / 140/141 |
| Location | Adlershof |
| Zusatzinformation | Purging with dry air
Box for sample storage is available. |
| Geräteparameter | |
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