Ausgründungsvorhaben µTools wird durch den Helmholtz Enterprise-Fonds gefördert
Das Ausgründungsvorhaben µTools des Anwenderzentrum für Mikrotechnik wird vom Helmholtz Enterprise-Fonds für ein Jahr gefördert. Ziel der Förderung ist die Unterstützung bei der Marktanalyse und einer abgestimmten Marketingstrategie sowie die Erstellung eines Businessplans.
Das Anwenderzentrum für Mikrotechnik entwickelt lithographische Verfahren für die Fertigung mikrotechnischer Bauteile und Werkzeuge und unterstützt industrielle Partner in allen Phasen des Aufbaus eines Mikrostrukturprozesses. Besondere Erfahrungen existieren im Bereich der Herstellung von Teilen für Mikrogetriebe, von Mikroformwerkzeugen für das Heißprägen und Mikrospritzgießen, in der Röntgenlithographie und Maskentechnologie.
- Perowskit-Solarzellen: Prognosen zur LangzeitstabilitätZuverlässige Aussagen über die Langzeitstabilität von Perowskit-Solarzellen sind nach wie vor schwierig. Welche Verfahren zur Prognostik von Langzeitstabilität aussagekräftig sind, und wo noch Forschungsbedarf besteht, zeigt nun eine neue Studie aus dem Team um Dr. Carolin Ulbrich im renommierten Fachjournal Joule.
- Neue Ära für die Katalyse-Forschung: Auftaktveranstaltung zu ASCEND in Berlin, €30 Millionen FörderungAm 11. Juni 2026 fand im Helmholtz-Zentrum Berlin (HZB) in Anwesenheit von Bundesforschungsministerin, Dorothee Bär die Auftaktveranstaltung zu ASCEND statt (Accelerated Solutions for Catalysis using Emerging Nanotechnology and Digital Innovation). Zu den Gästen zählten u.a. der Präsident der Helmholtz-Gemeinschaft, Prof. Dr. Martin Keller sowie der Präsident der Max-Planck-Gesellschaft, Prof. Dr. Patrick Cramer. ASCEND bringt führende Partner aus Industrie und Forschung zusammen und wird vom Bundesministerium für Forschung, Technologie und Raumfahrt (BMFTR) mit 30 Millionen Euro gefördert. Die Initiative zielt darauf ab, die Entwicklung von Katalysatoren der nächsten Generation zu beschleunigen, um nachhaltigere chemische Prozesse zu ermöglichen.
- Imaging-Ellipsometrie für die Prozesskontrolle in DünnschichtbauelementenEin deutsch-israelisches Forschungsteam unter der Leitung von Dr. Andreas Furchner hat gezeigt, wie Imaging-Ellipsometrie die zerstörungsfreie Charakterisierung und Qualitätskontrolle mikrostrukturierter MXene-Dünnschichten während der Bauelementherstellung ermöglicht. Die Autoren nutzten zwei komplementäre ellipsometrische Ansätze für einen präzisen, skalenübergreifenden Zugang zu Materialeigenschaften. Die Arbeit etabliert Imaging-Ellipsometrie als leistungsfähige Methode zur Überwachung von Schichthomogenität, Bauelementintegrität und Funktionalität entlang des Herstellungsprozesses, einschließlich lithografischer Schritte. Die Studie wurde in Applied Physics Letters veröffentlicht und als „Editor’s Pick“ ausgewählt.