LEEM-PEEM
LEEM-PEEM
This photoemission electron microscope is equipped with a new state-of-the-art aberration corrector minimizing electron-optical imperfections and thus, allowing for higher instrument transmission. Simultaneously, better spatial resolution down to 2 nm is achieved as demonstrated in the low-energy (LEEM) mode. In combination with soft x-rays (XPEEM), spatially resolved spectroscopic investigations (NEXAFS, XPS) can be carried out as well as magnetic spectroscopies (XMCD, XMLD). An extension allows performing stroboscopic XPEEM experiments for magnetization dynamics.
Methods
PEEM, X-ray Microscopy, NEXAFS, XMCD
Remote access
not possible
| Station data | |
|---|---|
| Temperature range | 300 - 1600 K |
| Pressure range | 4·10-10 - 1·10-7 mbar |
| Detector | two-stage MCP (Hamamatsu) |
| Manipulators | 5-Axis Piezo-contolled |
| Sample holder compatibility | special SPECS
samples 9mm |
| Additional equipment | |
| Ortsauflösung LEEM-Modus | 2 nm |
| Ortsauflösung PEEM-Modus | 20 nm |
| Enddruck | 4E-10 mbar |
| Präparationskammer | * Sputtering up to 1.5kV * Sample temp. range 300 - 1200 K * pyrometric temp. measurement * LEED * Auger * gas inlets: Ar, O2, user specific * base pressure 1E-10 mbar |
Kombiniertes Niederenergie-/Photoemissions- Elektronenmikroskop mit Aberrationskorrektur.
Dieses Mikroskop ist mit einem neuartigen Aberrationskorrektor ausgestattet, der elektronenoptische Abbildungsfehler minimiert und dadurch gleichzeitig Transmission und Ortsauflösung erhöht. Im LEEM-Betrieb wurden im Labor bereits 2 nm nachgewiesen. In Kombination mit weicher Röntgenstrahlung (XPEEM) können orstaufgelöste spektroskopische Untersuchungen (NEXAFS, XPS) sowie magnetische Messungen (XMCD,XMLD) durchgeführt werden. Eine kürzlich installierte Erweiterung erlaubt stroboskopische XPEEM-Experimente zur Magnetisierungsdynamik.